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論文

Non-destructive depth profiling of oxidized surface of stainless steels by synchrotron radiation excited X-ray photoelectron spectroscopy

山本 博之; 江坂 文孝; 笹瀬 雅人*

Proceedings of Asia Steel International Conference 2009 (DVD-ROM), 5 Pages, 2009/05

X線光電子分光法(XPS)において励起源として放射光を用いた場合、励起源のエネルギーが可変であることを利用して分析深さを変化させ、非破壊的に深さプロファイルを得ることが可能となる。本研究ではステンレス鋼の初期酸化層について放射光を用いたXPSにより解析を行った。この結果、400$$^{circ}$$C以上(大気中)の酸化条件では一般にステンレス鋼の酸化被膜に見られるCrの濃縮が確認されたが、200$$^{circ}$$C$$sim$$400$$^{circ}$$Cの酸化ではこれとは逆に表面にFeの酸化膜が生じていることが明らかとなった。この結果は、ステンレス鋼の初期酸化において、極表面では一旦Feの酸化膜が形成され、その後Crの濃縮が生じる傾向が確認された。

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